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        霍爾效應測試儀

        • 更新時間:  2019-01-20
        • 產品型號:  HT-648
        • 簡單描述
        • 霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量,霍爾效應測試儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。
        詳細介紹

        霍爾效應測試儀產品簡介:

        霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量,變溫霍爾實驗儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。

        霍爾效應測試儀采用現代電子技術和計算機數據采集系統,對霍爾樣品鉆弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量,來確定半導體材料的各種性質。

        霍爾效應測試儀技術參數:

        電  磁  鐵:0-300mT可調

        勵磁電源:0-5A可調,可自動換向

        穩  定  性:<±0.1%

        數字特斯拉計:0-2000mT三位半數字顯示

        恒流源輸出:1mA

        穩  定  性:±0.1%

        數據采集系統霍爾電壓測量分辨率:1uV

        溫度變化測量范圍:80-400K

        工作電源:AC 220V;50Hz

        功率范圍:200W

        霍爾效應測試儀實驗裝置:

        變溫霍爾測試儀主要是由電磁鐵、可自動換向穩流源、恒溫器、測溫控溫系統、數據采集及數據處理系統等。

        變溫霍爾.jpg


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